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  • CEM3000國產(chǎn)臺(tái)式電鏡
    CEM3000國產(chǎn)臺(tái)式電鏡

    CEM3000系列國產(chǎn)臺(tái)式電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果。

    時(shí)間:2024-11-20型號(hào):CEM3000訪問量:287
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  • CEM3000國內(nèi)高抗振性臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000國內(nèi)高抗振性臺(tái)式掃描電鏡

    中圖儀器國內(nèi)高抗振性臺(tái)式掃描電鏡CEM3000系列用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設(shè)計(jì),在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像;還運(yùn)用了快速抽放氣設(shè)計(jì),讓用戶在使用時(shí)不再等待,且全系列可選配低真空系統(tǒng),以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度,滿足不同樣品的觀測需求。

    時(shí)間:2024-11-18型號(hào):CEM3000訪問量:359
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  • NS200涂層薄膜測量臺(tái)階儀
    NS200涂層薄膜測量臺(tái)階儀

    NS系列涂層薄膜測量臺(tái)階儀是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

    時(shí)間:2024-11-18型號(hào):NS200訪問量:241
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  • CEM3000A毫米級(jí)超大景深桌面掃描電鏡
    CEM3000A毫米級(jí)超大景深桌面掃描電鏡

    CEM3000毫米級(jí)超大景深桌面掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率,保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像,用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析,能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。其抗振設(shè)計(jì),在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

    時(shí)間:2024-11-12型號(hào):CEM3000A訪問量:228
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  • VT6100高分辨率成像共聚焦顯微鏡
    VT6100高分辨率成像共聚焦顯微鏡

    VT6000高分辨率成像共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。橫向分辨率高,所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。更擅長微納級(jí)粗糙輪廓的檢測。

    時(shí)間:2024-11-08型號(hào):VT6100訪問量:268
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  • SuperViewW1白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)
    SuperViewW1白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)

    SuperViewW白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮孑喞獌x。它能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-11-08型號(hào):SuperViewW1訪問量:302
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  • NS200軟膜材料臺(tái)階高度測量儀
    NS200軟膜材料臺(tái)階高度測量儀

    NS系列軟膜材料臺(tái)階高度測量儀是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺(tái)階高度來計(jì)算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

    時(shí)間:2024-11-06型號(hào):NS200訪問量:297
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  • CEM3000優(yōu)于4nm高分辨率臺(tái)式掃描電鏡
    CEM3000優(yōu)于4nm高分辨率臺(tái)式掃描電鏡

    CEM3000優(yōu)于4nm高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設(shè)備。空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非常快捷地進(jìn)行各項(xiàng)操作。甚至在自動(dòng)程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。

    時(shí)間:2024-11-04型號(hào):CEM3000訪問量:264
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