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Product CategorySuperViewW3d表面光學(xué)輪廓檢測儀以白光干涉技術(shù)為原理,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量。它集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點,適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類型,讓3D測量變得簡單。
SuperViewW1三維3D光學(xué)輪廓儀測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣,是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。其特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
VJ系列3d線激光輪廓測量儀搭配高精度線激光測頭,結(jié)合高精度圖像分析算法,無接觸掃描3D輪廓成像,實現(xiàn)尺寸的快速精確測量。CNC模式下,只需按下啟動鍵,儀器即可根據(jù)工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成,真正實現(xiàn)一鍵式快速精準(zhǔn)測量。
SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
中圖儀器W系列3d表面輪廓光學(xué)檢測儀能對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
SuperViewW1非接觸式光學(xué)輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
SuperViewW1光學(xué)形貌輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細(xì)器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
CHOTEST中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓度測量儀是以白光干涉技術(shù)為原理的白光干涉儀,測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測,具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點。
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