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  • SuperView W1白光干涉微觀形貌儀
    SuperView W1白光干涉微觀形貌儀

    SuperViewW1白光干涉微觀形貌儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。

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  • SuperView W13D形貌白光干涉儀
    SuperView W13D形貌白光干涉儀

    SuperViewW系列3D形貌白光干涉儀基于白光干涉原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。

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  • SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀
    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀

    SuperViewW1白光干涉光學(xué)測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等。

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  • SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量?jī)x
    SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量?jī)x

    中圖儀器SuperViewW1白光干涉3D形貌測(cè)量?jī)x集成X、Y、Z三個(gè)方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺(tái)平移、Z向聚焦、找條紋等測(cè)量前工作。專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

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  • SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀
    SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀

    SuperViewW1白光干涉儀三維形貌儀具備的環(huán)境噪聲檢測(cè)模塊能夠定量評(píng)估出外界環(huán)境對(duì)儀器掃描軸的震動(dòng)干擾,在設(shè)備調(diào)試、日常監(jiān)測(cè)、故障排查中能夠提供定量的環(huán)境噪聲數(shù)據(jù)作為支撐。

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  • SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest
    SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀chotest

    SuperViweW1白光干涉三維輪廓儀chotest采用集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)的擴(kuò)展型相移算法EPSI,單一模式即可適用于從平面到弧面、超光滑到粗糙等各種表面類型,其3D重建算法,自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。

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  • SuperViewW1白光干涉表面形貌儀
    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀

    SuperViewW1白光干涉表面形貌儀用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參數(shù)作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。

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  • SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀
    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀

    SuperViewW1國(guó)產(chǎn)三維白光干涉儀以白光干涉技術(shù)原理,結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行納米級(jí)測(cè)量,通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。

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